OGP Smartscope SNAP系列的遠心測量特性

時間：2022-03-15

作者：似空科學儀器（上海）有限公司

詞條
詞條說明
產品演示系列：Makrolite 4K數碼顯微鏡
Makrolite 4K是英國工業顯微鏡有限公司在2022年新推出一款4K分辨率的**高清晰度的數碼顯微鏡，優秀的圖像質量，較清晰的成像顯示目標物較精細的細節，并提高生產率及準確率，減少浪費和由樣品質量導致的問題。? ???以下視頻為您演示Makrolite 4K**高清數碼顯微鏡的*特之處。?????
常見芯片開封技術及儀器簡介
常見芯片開封技術及儀器簡介?Wayne Zhang（似空科學儀器（上海）有限公司）2022.10.11?? ? ? ?芯片失效分析（FA, Failure Analysis）的常見方法中，包含非破壞性分析（無損檢測，如超聲波、X-RAY分析）、破壞性物理分析（有損檢測，如芯片開封/開蓋、切片制樣）、I-V電氣特性分析、EMMI微光檢測等。
創新產品擴展光學顯微鏡性能
我們很榮幸為您帶來全新產品DRV Stereo CAM，這是一款創新的立體視覺觀察系統，將光學體視顯微鏡轉換為高倍高清裸眼3D立體視覺顯微鏡。**整合DRV Stereo CAM與我們屢獲殊榮人機工效學無目鏡體視顯微鏡Lynx EVO集合一體，但它也可兼容傳統雙目體視顯微鏡使之升級成為全高清3D立體視覺數碼觀察系統。這一*特的系統結合了高清光學顯微鏡和Vision Engineering的**D
失效分析意義及操作步驟
失效分析意義及操作步驟失效分析的意義主要表現具體來說，失效分析的意義主要表現在以下幾個方面：失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析為設計工程師不斷改進或者修復芯片的設計，使之與設計規范較加吻合提供必要的反饋信息。失效分析可以評估不同測試向量的有效性，為生產測試提供必要的補充，為驗證測試流程優化提供必要的信息基礎。失效分析主要步驟和內容：1，