鎖定“雙碳”、可持續(xù)發(fā)展，三大產(chǎn)業(yè)共同目標(biāo)

時間：2021-10-29作者：似空科學(xué)儀器（上海）有限公司瀏覽：229

似空科學(xué)儀器（上海）有限公司專注于無損檢測設(shè)備,芯片開封機(jī),影像測量儀,研磨拋光設(shè)備等

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  詞條說明

• 全高清數(shù)碼顯微鏡VE CAM 產(chǎn)品背后的故事

  全高清數(shù)碼顯微鏡VE Cam的成功面世，吸引了許多用戶的關(guān)注。此次我們采訪了Vision Engineering集團(tuán)產(chǎn)品設(shè)計開發(fā)總監(jiān)Graham Mercer先生，以了解這款新產(chǎn)品背后的故事。???VE CAM緊 湊 型 全 高 清 數(shù) 碼 顯 微 鏡????問?請問較初是什么促使你們創(chuàng)造了 VE Cam？?

• SmartScope MVP和SmartScope Flash/CNC測量系統(tǒng)的相機(jī)新配備

  數(shù)碼相機(jī)的好處是很多的-提供較好的測量性能，高可靠性和較低的成本。SmartScope 的系列產(chǎn)品諸如SmartScope Flash/CNC 具有優(yōu)異的相機(jī)配置。?與相同的系統(tǒng)及傳統(tǒng)模擬相機(jī)相比，一套優(yōu)異的數(shù)字測量相機(jī)可以實現(xiàn)較快的測量與較好的分辨率和精度。只要光學(xué)系統(tǒng)和相機(jī)像素大小與待測部件和特征匹配良好，像素越多，分辨率就越高。沒有顯卡;因此可以使用較緊湊的計算機(jī)。連接很簡單，并且

• 什么是芯片開封機(jī)

  芯片開封機(jī)分用化學(xué)腐蝕和激光開封兩種，區(qū)別是激光開封比較簡單，而且開封銅線邦定的IC比較*。開封, 即開蓋/開帽, 指去除ic封膠, 同時保持芯片功能的完整無損, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-frame不受損傷, 為下一步芯片失效分析實驗做準(zhǔn)備.上述就是為你介紹的有關(guān)什么是芯片開封機(jī)的內(nèi)容，對此你還有什么不了解的，歡迎前來咨詢我們網(wǎng)站，我們會有專業(yè)的人

• 電子電路失效分析

  1、介紹電子器件元器件技術(shù)的*進(jìn)步和可靠性的提高確立了當(dāng)代電子器件武器裝備的基本，元器件可靠性工作中的根本宗旨是提高元器件的可靠性。因而，務(wù)必高度重視和加速發(fā)展趨勢元器件的可靠性剖析工作中，根據(jù)剖析明確無效原理，找到損壞緣故，意見反饋給設(shè)計方案、生產(chǎn)制造和應(yīng)用，一同科學(xué)研究和執(zhí)行糾正措施，提高電子器件元器件的可靠性。電子器件元器件失效分析的效果是依靠各種各樣檢測剖析技術(shù)和分析程序確定電子器件元器