芯片能忍受高溫嗎？

時間：2023-07-04

作者：廣東宏展科技有限公司

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芯片研發過程中的可靠性測試有哪些
一、芯片可靠性測試比常見的幾種試驗：加速測試：在半導體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會改變觀察時間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額”。高加速測試是基于 JEDEC 的資質認證測試的關鍵部分。溫度循環：根據 JED22-A104 標準，溫度循環 (TC) 讓部件經受較端高溫和低溫之間的轉換。進行該測試時，將部件反復暴露
如何解決高低溫試驗箱不降溫、降溫慢？
高低溫試驗箱制冷方式有兩種，一種液氮制冷，這種通常用于深冷低溫箱（如溫度為-100℃、-200℃甚限低溫時），另一種為機械制冷，采用壓縮機進行冷卻，這種制冷方式在環境試驗設備行業應用廣泛，本文中高低溫試驗箱不降溫、降溫慢應如何解決就是針對機械式制冷的解決方法。高低溫試驗箱出現不降溫情況時，首先應把環境溫度降至5℃～28℃之間，然后檢測查是不是由于風冷式冷凝器因使用時間較長，累積灰塵太厚的原因，如果
鋰離子電池的檢測標準是什么
鋰離電池安全測試標準是針對處于開發階段的鋰離子電池進行測試，確保其符合**安全要求而制定的。這些鋰離子電池測試標準由美國保xain商實驗室 (UL)、日本標準協會 (JSA) 等知ming**組織制定，因此得到**認可。?對于鋰電池的安全測試，我們較常用的有以下6個標準：?1. **電工**(IEC) 62133? ? IEC 62133 是測試二次電池和
太陽能試驗規范列表整理
太陽能試驗規范列表整理項目標準號 ?標準名稱 1 GB 11011-89 非晶硅太陽能電池性能測試的一般規定 2 GB 12632-90 單晶硅太陽能電池總規范 3 GB/T 12936.2-1991 太陽能熱利用術語*二部分(Solar energy—Thermal applications—Terminology part 2) 4 GB/T 12936.1-1991 太陽能熱