芯片研發過程中的可靠性測試有哪些

時間：2023-07-28

作者：廣東宏展科技有限公司

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車載屏幕高低溫試驗測試條件及標準
一、高溫試驗高溫試驗是用來確定產品在高溫氣候環境條件下儲存、運輸、使用的適應性。試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續時間。參考的測試標準：GB/T 2423.2、IEC 、IEIA 364、MIL-STD-810F等。?二、低溫試驗低溫試驗是用來確定產品在低溫氣候環境條件下儲存、運輸、使用的適應性。試驗的嚴苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續時間。參考的測試標準：GB/T 2423.1、
高低溫試驗箱日常維護小方法
高低溫試驗箱日常維護小方法1.高低溫試驗箱一般都比較高,我們建議將其置于比較良性溫度環境中,我們的經驗溫度值為8℃~23℃,對不具備此條件的實驗室,須配備適當的空調器或冷卻塔.?2.必須堅持專人專業管理,有條件的單位應不定期派專人到供方工廠培訓學習.以獲得較專業的維護、維修的經驗和能力. 宏展儀器3.固定每3個月清洗一次冷凝器:對于壓縮機采用風冷冷卻的,應定期檢修冷凝風機并對冷凝器進行去
鹽霧試驗箱鹽霧沉降率的調整方法
影響鹽霧沉降率的因素有很多，當鹽霧沉降率出現偏差時，用戶可自行調整的有關的參數有兩個一是噴霧壓力；二是噴霧塔高度在各點鹽霧沉降率相近的情況下，只需要調整噴霧的壓力即可。如各點鹽霧沉降率相差較大并有局部點**標時，這時僅僅調整噴霧壓力就不能解決問題了，就需要調整噴霧塔高度。目前，噴霧塔式結構在國產鹽霧試驗箱上的應用比較廣泛。從外觀上看，噴霧塔式結構就像一個直塔，鹽霧是從塔**的斜形口噴出，塔放在試驗工作
冷熱沖擊試驗箱可用于半導體芯片的測試
芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實現某種特定功能的電路模塊。它是電子設備中*重要的部分，承擔著運算和存儲的功能。?????溫度的改變對半導體的導電能力、極限電壓、極限電流以及開關特性以及開關特性等都有很大的影響。當溫度過高時元器件體積發生