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相控陣技術(shù)作為無損檢測行業(yè)的新興技術(shù),起源于醫(yī)療行業(yè)。80年代中期,隨著復(fù)合壓電材料的發(fā)明,相控陣技術(shù)得到了快速的發(fā)展。90年代初,相控陣技術(shù)作為一種新的無損評估技術(shù)出現(xiàn)在超聲手冊和培訓(xùn)手冊中。90年代末,隨著復(fù)合壓電技術(shù),微加工技術(shù),微電子技術(shù)和計算技術(shù)的發(fā)展,使得相控陣技術(shù)日趨成熟,尤其是計算處理能力的增強使得軟件功能得到大提升。相控陣探傷技術(shù)可廣泛用于石油石化、金屬加工制造、航空航天等領(lǐng)域
影響超聲波測厚儀示值的因素(1)工件表面粗糙度過大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無法接收到回波信號。對于表面銹蝕,耦合效果差的在役設(shè)備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對表面進行處理,降低粗糙度,同時也可以將氧化物及油漆層去掉,露出金屬光澤,使探頭與被檢物通過耦合,劑能達到很好的耦合效果。(2)工件曲率半徑太小,尤其是小徑管測厚時,因常用探頭表面為平面,與曲面接觸為點接觸或線接觸,聲
全聚焦全解析-01-什么是全聚焦?全聚焦的歷史可以追溯到2004年,話說當年的11月份,C Holmes, B Drinkwater以及P Wilcox等人發(fā)表了一篇論文,題目叫“The post-processing of ultrasonic array data using the total focusing method”,翻譯成中文就是”使用全聚焦方法對超聲陣列數(shù)據(jù)進行后處理“。這也是
相控陣探傷儀通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發(fā)時間,從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發(fā)時間,從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。TOFD探傷儀,TOFD證書,測厚儀,粗糙度儀,硬度計,紅外線測溫儀,紅外線熱像儀等儀表設(shè)備產(chǎn)品。常見的探頭陣列幾何外形如下:線形陣1.維線形陣2.維矩形陣圓形陣1.維環(huán)形陣2.維扇形陣技術(shù)優(yōu)勢1
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上海鉑蒂BD-YS670玉石內(nèi)部裂紋缺陷檢測探傷儀
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沈陽宇時成員UM-2D超聲波測厚儀鋼管鋼板測厚儀穿透涂層測厚儀
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