Layertec的光學(xué)鍍膜方法

時(shí)間：2020-07-23作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：303

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

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  大角度線(xiàn)形光束整形器特點(diǎn)：-發(fā)散角>150 mRad-線(xiàn)寬為衍射極限-邊緣銳利，超過(guò)衍射極限后的能量急劇下降-剖面能量強(qiáng)度為平頂分布，整條線(xiàn)光斑都是均勻的-波長(zhǎng)：覆蓋了DUV到NIR-材料：純?nèi)廴谑ⅲ邠p傷閾值涂層，適用于高功率的應(yīng)用作為衍射光學(xué)元件制造領(lǐng)域的世界領(lǐng)先者，Holo/Or公司非常榮幸地推出一種新的大角度線(xiàn)形光束整形器。大角度線(xiàn)形光束整形器應(yīng)用：例如，使用合適的聚焦光學(xué)元件和H

• 深圳維爾克斯代理的長(zhǎng)焦深DOE的原理及使用手冊(cè)

  深圳維爾克斯專(zhuān)業(yè)代理長(zhǎng)焦深DOE衍射光學(xué)元件，它能夠沿著光軸在焦距附近產(chǎn)生一個(gè)能量分布近乎均勻、焦深長(zhǎng)度幾百微米到幾毫米的焦點(diǎn)。這種長(zhǎng)焦點(diǎn)與普通焦點(diǎn)相比，寬度幾乎不變，但是焦點(diǎn)長(zhǎng)度大大增加，因此特別適合材料的深度切割。這篇應(yīng)用文檔是為了便于行業(yè)同仁和用戶(hù)理解和使用長(zhǎng)焦深DOE。長(zhǎng)焦深DOE的工作原理為了便于理解，我們可以借用多焦點(diǎn)DOE的模型來(lái)解釋長(zhǎng)焦深DOE的原理。多焦點(diǎn)DOE能夠?qū)⒁皇夥殖蓭?/p>

• 光束分析儀選型，預(yù)防EAR

  ? ? 在中美貿(mào)易戰(zhàn)的影響下，增加對(duì)美國(guó)原裝進(jìn)口的儀器設(shè)備的關(guān)稅，關(guān)稅增長(zhǎng)普遍為10％，部分產(chǎn)品關(guān)稅增長(zhǎng)至25％。光斑分析儀一方面進(jìn)口關(guān)稅增加了25%，另一方面屬于美國(guó)嚴(yán)格控制的高科技產(chǎn)品，因此如何正確選擇測(cè)量?jī)x器，降低運(yùn)營(yíng)成本成為了用戶(hù)如何選擇光斑分析儀關(guān)鍵。而以色列DUMA廠(chǎng)家生產(chǎn)的光束分析儀在某些功能和參數(shù)上來(lái)看與美國(guó)產(chǎn)的測(cè)量設(shè)備相似，如光譜響應(yīng)范圍，分辨率，傳感器有效響

• Opto diode多層濾光薄膜在17-150 ?波段的硅光電二極管的特性表征描述

  JF Seely，RS Korde，J Wise對(duì)采用薄膜沉積從而具有多層薄膜濾光片的硅光電二極管探測(cè)器使用同步輻射進(jìn)行了表征描述。Opto diode多層膜結(jié)構(gòu)有金屬薄膜和其他材料組成，被設(shè)計(jì)用于提供波長(zhǎng)帶通在17到150埃的波長(zhǎng)范圍（極紫外），實(shí)際測(cè)量的薄膜透過(guò)率和計(jì)算的理論透過(guò)率具有良好的一致性。建模考慮了多層薄膜的透過(guò)率和在硅基底的底層的輻射能量的沉積，用下述襯底材料制成的探測(cè)器也進(jìn)行了表