手持式光譜分析儀的用途

時間：2020-01-05

作者：蘇州百測檢測科技有限公司

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XRF環保ROHS測試儀的優缺點
XRF的優點:a)?分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b)?X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在**軟X射線范圍內，這種效應較為顯著。波長變化用于化學位的測定。c)
光電直讀光譜儀介紹
光電直讀光譜儀的全譜分析技術覆蓋了全元素分析范圍，可根據客戶需要選擇通道元素；分析速度快捷，20秒內測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料，通過設置預燃時間及標線，使儀器用較短的時間達到較優的分析效果；金屬直讀光譜儀OES8000可測定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。 1、光學系統采用真空恒溫光室
X射線測厚儀校正方法
X射線測厚儀是檢測電鍍層厚度的儀器，通常x射線測厚儀被廣泛應用于電鍍廠，五金廠，汽車零部件，PCB加工，電子連接件等行業。X射線測厚儀又叫膜厚儀，測膜儀，鍍層測試儀，x射線鍍層測厚儀，金屬測厚儀，xrf測厚儀，x-ray測厚儀，x熒光光譜鍍層測厚儀等。那么如何校正？使用標準片進行校正是x射線測厚儀的正確方法，標準片又名膜厚儀校準片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校
涂層測厚儀故障排除方法
無損檢測之涂鍍層測厚儀的故障主要有示值顯示不穩定、誤差較大、不顯示數值等。引起這些故障的原因有來自儀器本身的也有來自被測工件的，還有就是來自自然環境的影響，下面我們介紹一下排除這些故障的方法。示值顯示不穩定導致涂鍍測厚儀示值顯示不穩定的原因主要是來自工件本身的材料和結構的特殊性，比如工件本身是否為導磁性材料，如果是導磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測厚儀，如果工件為導電體，我們就得選擇渦流涂鍍