詞條
詞條說明
光譜分析基本原理 橫坐標表示原子所處的能級;Eo為基態能級的能量,一般為零表示,釋放出的能量ΔE與輻射出的光波長λ有如下關系。 ΔE=Eh-El=ch/λ 式中:ΔE 釋放出的能量, Eh 高能態的能量, E1 低能態的能量, 圖 能級躍遷 c 光速(3X10l0厘米/秒) h 勃朗克常數 λ 輻射光的波長 圖中縱坐標表示各能級所具有的能量, 因為每一種元素的基態是不相同的,激發態也是不一樣的,
AR882A+短波紅外測溫儀產品特點 **于冶金、鍛造、爐窯等高溫作業領域。 技術參數 測溫范圍 200℃~1850℃(392℉~3362℉) 測量精確度 ±2%or±2℃ 測量物距比 50:1 **率 0.10~1.00可調 分辨率 0.1℃0.1℉(<1000℃) 光譜響應和反應時間 (900-1700)nm&500ms 重復性 ±1%or±1℃ ℃/℉單位轉換 有 數據鎖定和數據存儲 有
江西LSG521Ⅱ電子安平雙向激光掃平儀價格-型號-使用方法
產品型號:LS521Ⅱ/LSG521Ⅱ 產品名稱:LS521Ⅱ/LSG521Ⅱ電子安平雙向激光掃平儀 產品貨號: 產品價格:0 產品品牌:星楓儀器 產品類別:建筑工程及物探 LS521Ⅱ/LSG521Ⅱ電子安平雙向激光掃平儀特征: 水平或垂直360°旋轉激光 電子安平,**范圍報警 失衡報警 區域掃描的方向和角度可調 雙軸坡度掃描功能 強制旋轉功能 技術規格: 激光波長:635nm (LS521Ⅱ
MC-2010A型涂層測厚儀(鍍層測厚儀) 一、概述 MC-2010A型涂(鍍)層測厚儀是公司**的結晶。涂層測厚儀采用單片機技術,測量精度高、數字顯示、操作簡單方便、觸摸按鍵、內置探頭全量程測量、體積小、重量輕; 強大的抗干擾能力,求值較穩定;且具有低電壓指示、統計、系統/零點/兩點校準功能,其性能已達到當代**同類儀器的**水平。 MC-2010A型涂鍍層測厚儀應用范圍:本儀器采用磁性測
公司名: 南昌星楓儀器有限公司
聯系人: 黃經理
電 話: 0791-85226050
手 機: 15970662315
微 信: 15970662315
地 址: 江西南昌青云譜區南昌市青云譜區三點西路44號
郵 編: 330001
公司名: 南昌星楓儀器有限公司
聯系人: 黃經理
手 機: 15970662315
電 話: 0791-85226050
地 址: 江西南昌青云譜區南昌市青云譜區三點西路44號
郵 編: 330001