涂鍍層厚度測試的應用領域

時間：2019-12-23

作者：深圳市啟威測標準技術服務有限公司

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X射線光譜方法測定
X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設
表面微觀形貌的測量與評定
表面形貌評定的**在于對特征信號無失真的提取和對使用性能的量化評定，國內外學者在這一方面做了?大量工作，提出了許多分離與重構方法。隨著當今微機處理技術、集成電路技術、機電一體化技術等的發展。出現了用分形法、Motif法、功能參數集法、時間序列技術分析法、小二乘多項式擬合法、濾波法等各種評定理論與方法，**了顯著進展。表面是由粗糙度，波紋度和表面形狀誤差3個部分構成的。隨著現代測量精度的不
SEM及EDS測試范圍有哪些？
SEM的二次電子成像分辨率約3nm背散射電子成像分辨率約300nmEDS成分分析的元素范圍Be~U分析深度約1μm檢測下限約1%空間分辨率約1μmSEM+?EDS常規服務項目:各種固體材料的形貌分析微區化學成分檢測樣品成分的線分布和面分布分析機械探針式測量方法:探針式輪廓儀測量范圍大，測量精度高，但它是一種點掃描測量，測量費時。機械探針式測量方法是開發較早、研究充分的一一種表面輪廓測量方
表面成分分析需要的工具有哪些？
表面成分分析工具化學抽提法微譜技術實拍--氣相色譜儀微譜技術實拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜（OES）電感耦合等離子體放射光譜（ICP-AES）電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）原子吸收光譜（AAS）手持式XRF