X熒光光譜鍍層測厚儀

時間：2024-09-25作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：22

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• 詞條

  詞條說明

• X射線熒光光譜儀的主要用途

  主要使用X射線束激發熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，并作為過程控制的工具，廣泛應用于采掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光

• X射線熒光光譜儀技術原理

  X射線熒光光譜儀另一方面，化學元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內層電子被激起，則當外層電子躍遷時，就會放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續譜。假如激起光源為x射線，則受激發生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發生的進程。當人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。這一互相效果進程被稱為光電效應，被打出的電子稱為光電子

• X射線熒光光譜儀常見有那幾種分類

  波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢，適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與

• X射線熒光光譜儀是什么？

  X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。 一種射線式