三綜合測(cè)試-機(jī)械可靠性檢測(cè)-優(yōu)爾鴻信檢測(cè)

時(shí)間：2024-03-13作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：69

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 昆山新到一臺(tái)最新款的ATOS 藍(lán)光3D掃描設(shè)備--有需求趕緊甩過(guò)來(lái)

  5月初新到貨一臺(tái)最新款的3D掃描設(shè)備！該設(shè)備采用藍(lán)光窄域波長(zhǎng)投影技術(shù)，避免環(huán)境光而不受干擾，可以得到更精確的量測(cè)。光源亮度非常高，在品質(zhì)不佳的表面也能快速完成量測(cè)。藍(lán)光3D掃描 ATOS Capsule 12M 已就位，歡迎咨詢檢測(cè)！?1.3D色階偏差比對(duì)?2.各類尺寸分析測(cè)量?3.製程品質(zhì)管控分析?4.逆向抄數(shù)精度更高，效率更快，掃描分析功能更強(qiáng)大！

• 紅外光譜法常識(shí)，您了解多少？

  紅外光譜1.材料吸收紅外光的必要條件（1）分子振動(dòng)必須能夠與紅外輻射耦合，即分子振動(dòng)必須伴隨著瞬時(shí)偶極矩的變化。（2）只有當(dāng)紅外輻射光子照射分子的能量等于分子振動(dòng)能級(jí)躍遷所需的能量時(shí)，才能實(shí)現(xiàn)振動(dòng)和輻射的耦合，使分子吸收紅外輻射能量產(chǎn)生振動(dòng)能級(jí)躍遷。即 △ ev = ev2 - ev1 = h υ。2.紅外光譜的缺點(diǎn)：（1）色散儀器分辨率和靈敏度低，不適合弱輻射的研究。（2）不能用于分析水溶液和含

• 三綜合測(cè)試-機(jī)械可靠性檢測(cè)-優(yōu)爾鴻信檢測(cè)

  三綜合測(cè)試是指綜合溫度、濕度、?振動(dòng)三個(gè)條件（或其中兩個(gè)條件結(jié)合，兩綜合試驗(yàn)）的復(fù)合試驗(yàn)，與單一的振動(dòng)、溫濕度試驗(yàn)相比更占優(yōu)勢(shì)在可靠性測(cè)試中占有重要地位。本試驗(yàn)?zāi)軌蛘鎸?shí)模擬電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過(guò)程中的振動(dòng)和環(huán)境變化，反映出電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過(guò)程中對(duì)溫濕度及振動(dòng)復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺點(diǎn)。是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程必不可少的重要試驗(yàn)手段。三綜

• 為什么需要進(jìn)行氙燈老化測(cè)試？目的和意義是什么？

  氙燈老化測(cè)試的試驗(yàn)?zāi)康募耙饬x一、氙燈老化試驗(yàn)的目的和意義:1）太陽(yáng)輻射試驗(yàn)(氙燈暴露試驗(yàn)、碳弧燈暴露試驗(yàn)、鹵素?zé)舯┞对囼?yàn))的熱效應(yīng)主要由太陽(yáng)輻射能量的中紅外光譜引起，主要引起產(chǎn)品的短時(shí)高溫和局部過(guò)熱，導(dǎo)致部分感溫元件失效、結(jié)構(gòu)材料機(jī)械損傷和絕緣材料過(guò)熱損壞。2）光化學(xué)效應(yīng)主要是太陽(yáng)輻射能量的紫外光譜引起的，紫外光譜提供的光能足以激發(fā)材料分子發(fā)生斷裂、降解或相互作用，使材料發(fā)生老化、變質(zhì)。當(dāng)太陽(yáng)輻射