Layertec的表面光潔標準的說明

時間：2023-12-13

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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IR Viewer紅外觀察儀注意事項與使用方法
高性能紅外觀察儀VIR系列是在高級圖像轉換器的基礎上設計的，是由Optogama紅外觀察儀ABRIS M系列升級而來，主要是用于在350-2000nm光譜區域觀察紅外激光、LED、染料等紅外源的間接輻射。該紅外觀測儀設備重量輕，結構緊湊，可手持使用，post安裝有1/4-20內螺紋。VIR觀察儀具有較好的分辨率、紅外靈敏度和增強因子。此外，它可以與CCD相機適配器一起使用，用于PC和圖像的視頻注冊
線激光元件被用于晶圓檢測
在半導體行業中，極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題，這會降低產量并耗費生產的時間和成本。因此，檢測半導體晶圓表面的缺陷和污染至關重要，這是在半導體計量行業許多客戶面臨的挑戰。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷，通常在深紫外（DUV）波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中，Holoor指出當線沿徑向掃描時，晶圓旋轉，產生晶圓的大面積采樣，從而
RTP Q-Switch晶體應用于航空領域 Raicol Crystals
Raicol Crystals公司開發了獨特的RTP調Q晶體生長技術，可以產生精確的脈沖激光系統，作為太空激光器晶體，該系統可以測量500公里以外地球上的冰川變化。這項技術曾在2019年OASIS會議上在以色列展示。法國航天局選擇了Raicol Crystals衛星測量方法原理是計算信號返回的時間，激光發射器發射至衛星上的窄帶望遠鏡，然后窄帶望遠鏡反射回去的時間進行測量，激光發射器使用的晶體是色列
SPECIM高光譜儀是線掃描相機的原因
一般的相機都是一次性直接成像的，因為他們采用的面陣傳感器對圖像進行一次性接收。而高光譜相機的成像方式比較特別，采用線掃描的方式進行成像，本文就高光譜相機采用線掃描方式的原因進行討論。高光譜相機基于探測器和成像光譜儀，其中高光譜成像儀用到一種技術——線掃描，它也被稱作線掃描高光譜相機、高光譜掃描儀、線掃描高光譜成像儀、高光譜儀、高光譜成像儀。該掃描儀通過使用分光鏡傳感器獲取圖像，通常用于遙感技術、產