高低溫探針臺-解釋塞貝克系數測量原理及系數

時間：2023-10-07

作者：鄭州科探儀器設備有限公司

詞條
詞條說明
多功能可擴展顯微鏡熱臺拉曼光學測試臺
擁有一臺你在材料測試方面微型真空探針臺? ? ? ?多功能可擴展顯微鏡熱臺微型探針臺?? ? ? ?氣敏濕敏探針臺? 拉曼光學測試臺? 熱電探針臺??? ? ? ? 光電探針臺非磁性霍爾效應探針臺??
PVD制備K型薄膜熱電偶的研究
熱電偶元件是在工業、科研中廣泛使用的一種溫度傳感器,具有測溫范圍廣,堅固耐用,無自發熱現象,使用方便等優點。薄膜熱電偶除了繼承上述普通熱電偶的優點外,還具有熱容小,響應速度快,幾乎不占用空間,對被測物體影響小的優點。本研究為制備K型薄膜熱電偶選擇了電子束蒸發鍍,磁控濺射,多弧離子鍍三種PVD方法。其中一部分樣片的NiCr/NiSi薄膜均由磁控濺射均由磁控濺射沉積,另一部分樣片的NiCr薄膜由磁控濺
磁控濺射沉積系統設計
?針對光學和介電功能薄膜制備中的離化率低和靶面污染問題,設計了一種磁控濺射沉積系統,系統包括磁控濺射靶裝置、等離子體源和陽極清洗裝置。主要結論有:(1)在磁控濺射靶裝置設計中,采用磁流體密封替代橡膠軸承密封,提高了靶裝置的密封性,極限真空度可達10-6 Pa;采用旋轉磁鋼代替固定磁鋼,使靶材的利用率從30%提高到60%,同時避免了靶裝置在預先清洗時的污染;設計了靶裝置的驅動端,完成了電機
高溫真空探針熱臺的使用場景
1000度高溫真空探針臺，主要應用于半導體、材料科學、納米技術、光電子、薄膜技術等領域，具有以下用途：1. 半導體器件測試與表征：用于不同溫度下的半導體料件、電子器件和光電子器件的性能測試和分析。2. 材料性能表征：研究和測試材料在不同溫度下的電學、磁學、光學等性能，以及材料的穩定性和可靠性。3. 納米結構與納米器件研究：在納米尺度上測量納米結構與納米器件的電學性能，及其在高溫真空環境中的穩定性和