手持式合金分析儀的產品特點

時間：2022-08-10

作者：科邁斯（深圳）科學儀器有限公司

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手持式光譜儀檢測結果與試樣表面清潔度的關系
手持式光譜儀，即手持式X熒光光譜分析儀，使用的X熒光技術，能做無損檢測，制備平整、光潔的檢測面，有利于測試，但不利于手持式光譜儀的原位、現場快速檢測等優勢。然而，但是試樣的狀態也直接影響著手持式光譜儀最后的檢測結果。金屬材料表面被氧化或銹蝕與否，與材料的材質、熱處理狀態、表面狀態、環境、時間等有關。高鉻鎳不銹鋼表面生成致密氧化薄膜，阻止了氧化反應向縱深發展，即使表面未拋光，也不明顯影響測試；碳鋼、
手持式XRF光譜儀探測器如何選擇
SDD還是PIN：您的手持式XRF分析儀需要哪種探測器？在購買手持式XRF分析儀時，確定需要硅漂移探測器（SDD）還是PIN探測器是您需要做出的首要選擇之一。科邁斯KMX-RAY?XRF系列中的兩款儀器就配備了兩種不同的探測器：K-8000分析儀裝配有Si-PIN探測器(美國MOXTEK)，而K-800、K-8000PLUS分析儀裝配有SDD探測器(德國KETEK)。SDD對比PIN：它
手持式合金分析儀的產品特點
手持式合金分析儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成。手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術，X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子，出現殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量
利用手持式光譜儀K-8000檢測金屬
利用手持式光譜儀K-8000檢測金屬板狀、塊狀、帶狀、方管狀、中等規格柱狀和錐體狀（截面）材料等易獲得能完全覆蓋測量窗口（和接觸窗口）的檢測面，進而**較佳檢測結果，測試圓管（柱）狀、錐管狀等材料時，軸向測試**切線向，直徑大于11 mm時，兩個方向的檢測結果基本一致（直徑在12~63 mm之間時，接觸窗口切線向沒有感應）；檢測小規格柱狀、管狀以及絲狀材料，適當延長測試時間，并用已定值的實物樣品校