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詞條說明
高分子材料是以高分子化合物為基體,再配有其他添加劑(助劑)所構成的材料,也稱作聚合物材料。成分決定性能,因此在材料評估、質量管控、失效分析等時候相關工作者都有可能需要通過成分析分析來進行材料的確認。高分子材料成分分析是通過多種分離技術,利用各種分析儀器進行表征,然后將檢測的結果通過技術人員的逆向推導,較終完成對待檢樣品的未知成分進行定性、定量分析的過程。由此可見高分子材料成分分析是一個綜合分析的過
磁粉探傷就是利用工件缺陷處的漏磁場與磁粉的相互作用來工作。它依靠鋼鐵制品表面和近表面缺陷(如裂紋,夾渣,發紋等)磁導率和鋼鐵磁導率的差異,磁化后這些材料不連續處的磁場將發生畸變,形成部分磁通泄漏處工件表面產生了漏磁場。從而吸引磁粉形成缺陷處的磁粉堆積——磁痕,如下圖;然后在適當的光照條件下,顯現出缺陷位置和形狀,對這些磁粉的堆積加以觀察和解釋,就實現了磁粉探傷。在工業中,磁粉探傷可用來作最后的成品
花曲柳落葉大bai喬木,高12-15米,樹皮灰褐色,光滑du,老時淺裂。冬芽闊zhi卵形,dao*尖,黑褐色,具光澤,內側密被棕色曲柔毛。當年生枝淡黃色,通直,無毛,去年生枝暗褐色,皮孔散生。羽狀復葉長15-35厘米;葉柄長4-9厘米,基部膨大;葉軸上面具淺溝,小葉著生處具關節,節上有時簇生棕色曲柔毛;小葉5-7枚,革質,闊卵形、倒卵形或卵狀披針形,長3-11(-15) 厘米,寬2-6(-8)厘
射線照相法(RT)是指用X射線或g射線穿透試件,以膠片作為記錄信息的器材的無損檢測方法,該方法是較基本的,應用較廣泛的一種非破壞性檢驗方法。(1)、射線照相檢驗法的原理:射線能穿透肉眼無法穿透的物質使膠片感光,當X射線或r射線照射膠片時,與普通光線一樣,能使膠片乳劑層中的鹵化銀產生潛影,由于不同密度的物質對射線的吸收系數不同,照射到膠片各處的射線能量也就會產生差異,便可根據暗室處理后的底片各處黑度
公司名: 江蘇廣分檢測技術有限公司
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