ICP-AES光譜儀分析方法介紹

時間：2024-10-16

作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司

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詞條說明
合金檢測儀廠家技術推薦
合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素，同時將其量化。它可以根據X射線的發射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質的元素構成。每一個原子都有自己固定數量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數量等同于核子中的質子（正電微粒）數量。從元素周期表中的原子數我們則可以得知質子的數目。
IC芯片X-RAY成像檢測設備廠家技術介紹
成立于2002年，現已成為國內從事精密X射線技術研究和X射線智能檢測裝備研發、制造的國家高新技術企業、及國內X射線智能檢測系統集成商。本項目填補國內多項技術空白，該技術和裝備廣泛應用于公共安全、鋰電池、電子制造（EMS）、集成電路、半導體、太陽能光伏、LED、連接器、汽車零部件、輪胎輪轂、壓力容器等高科技行業。擁有中外從業多年的資深研發團隊，建有省級工程技術研究中心、高層次科技平臺的院士工作站
ROHS檢測儀分析原理流程
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發源和探測器和相關電子與控制部件，相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定
鍍層厚度測試儀廠家技術介紹
X-ray鍍層測厚儀的原理：被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，這時原子被激發了，處于激發態。此時，其他