便攜式X熒光光譜儀

時間：2019-12-04作者：蘇州百測檢測科技有限公司瀏覽：17

蘇州百測檢測科技有限公司專注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測儀器,x射線鍍層測厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• 能量色散x射線熒光光譜儀詳情

  作為國內(nèi)**家從事能量色散X射線熒光光譜儀的研發(fā)和生產(chǎn)的企業(yè)，儀器以精準(zhǔn)和穩(wěn)定的特性，良好**十多年。從成立開始，儀器就是中國XRF儀器的**者，開拓者！EDX4500系列是儀器能量色散XRF儀器的科研結(jié)晶，**的抽真空測試技術(shù)，能夠很好的對輕元素進(jìn)行分析和測試。 測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U） 元素含量分析范圍： ppm—**（不同元素，分析范圍不同） 同時分析元素：一

• X射線測厚儀校正方法

  X射線測厚儀是檢測電鍍層厚度的儀器，通常x射線測厚儀被廣泛應(yīng)用于電鍍廠，五金廠，汽車零部件，PCB加工，電子連接件等行業(yè)。X射線測厚儀又叫膜厚儀，測膜儀，鍍層測試儀，x射線鍍層測厚儀，金屬測厚儀，xrf測厚儀，x-ray測厚儀，x熒光光譜鍍層測厚儀等。那么如何校正？ 使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校正是x射線測厚儀的正確方法，標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校

• 涂層測厚儀故障排除方法

  無損檢測之涂鍍層測厚儀的故障主要有示值顯示不穩(wěn)定、誤差較大、不顯示數(shù)值等。引起這些故障的原因有來自儀器本身的也有來自被測工件的，還有就是來自自然環(huán)境的影響，下面我們介紹一下排除這些故障的方法。 示值顯示不穩(wěn)定 導(dǎo)致涂鍍測厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料，如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測厚儀，如果工件為導(dǎo)電體，我們就得選擇渦流涂鍍

• X射線熒光光譜儀原理

  X射線熒光光譜儀的原理是通過X射線照射樣品激發(fā)產(chǎn)生熒光，通過半導(dǎo)體檢測器收集**的熒光信息并通過計算機(jī)進(jìn)行處理，就能得出待測樣品的各種元素的含量。X射線熒光分析技術(shù)可以解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對復(fù)雜成份、材料中元素的快速、準(zhǔn)確分析。也可以用于ROHS六大有害物質(zhì)測試和塑料中鹵素的檢測，銅合金元素成分分析及金屬鍍層厚度測試等。 X射線熒光光譜儀的原理是利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、Al、