熱真空試驗系統(tǒng)

時間：2017-01-10

作者：廣東宏展科技有限公司

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詞條說明
紫外線老化測試多久相當于使用一年
紫外光老化試驗是一種對產(chǎn)品進行紫外光老化試驗的試驗方法。這個試驗可以評價材料，涂料，以及諸如塑料，涂料，橡膠，纖維，織物等在室外使用的產(chǎn)品。紫外光老化試驗是利用紫外光管內(nèi)的紫外光，對被測試樣進行加速老化試驗。輻照強度及試驗時長可依試驗要求及本產(chǎn)品之設計而定。但是，經(jīng)過多長時間的UV老化測試才相當于產(chǎn)品的實際使用年限呢？這并不是一個確切的答案，因為實際的年限取決于許多因素，例如使用環(huán)境、氣候條件、維
P100溫濕度程序控制器的優(yōu)勢
1.通訊與聯(lián)機控制·提供以太網(wǎng)來遠程監(jiān)控和控制試驗箱，隨時隨地可以用PC或PDA通過網(wǎng)絡監(jiān)測試驗進度。報警系統(tǒng)聯(lián)網(wǎng)后，可以通過郵件或短信通知您設備問題，以方便快速反應跟進，節(jié)省您寶貴的時間。一鍵操作完成試驗數(shù)據(jù)自動通過電子郵件發(fā)送。2.數(shù)據(jù)記錄可記錄試驗數(shù)據(jù)，包括文件名、批次、編號、操作者及數(shù)字量信號等，方便以后的查找與核對。并可提供多達30個操作者ID，并可以分配不同的操作權限。自動化網(wǎng)絡數(shù)據(jù)備
集成電路IC卡高溫測試
在集成電路行業(yè)大家想必都知道，集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過高低溫測試的，來測試其在高低溫環(huán)境下的性能，集成電路 IC卡在出廠之前，一定要進行環(huán)境測試，以此來對集成電路在不同工作環(huán)境下的性能進行模擬，集成電路高低溫測試是依靠封裝級和晶片級集成電路**高低溫測試機，來協(xié)助廠商完成高低溫循環(huán)測試、冷熱沖擊測試、老化測試等測試。芯片的高/低溫度測試可以在一秒內(nèi)實現(xiàn)恒定溫度的快速升降，且精度達到±1℃
冷熱沖擊機季度保養(yǎng)
冷熱沖擊機季度保養(yǎng)? 一、電器部分：? 1、清潔配電盤上灰塵，嚴禁沾水。? 2、緊固粗線徑，大電流螺絲端子。? 3、檢查循環(huán)風機固定螺絲，防止長期運轉有松動。? 4、觀察大電流接觸器、斷路器（控制壓縮機、風機）是否有變色、焦痕？如有及時更換。? 二、冷凍部分： 1、定期清潔（每三個月）冷凝器，以免環(huán)境溫度**過30度時