半導體集成電路失效分析檢測裝備之高低溫試驗箱
- 時間：2015-11-26作者：上海柏毅試驗設備有限公司瀏覽：210
上海柏毅試驗設備有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,步入式環境箱等
詞條
詞條說明
? ?? ? ? ? ? ?電子元器件用高壓加速壽命試驗機（PCT）的發展 ??隨著現代社會的日益發展，科技的發展也是一日千里，科學的發展同時也帶動了現代工業技術的發展，例如各種電工電子及電鍍等產品的應用領域日益廣闊,其所經受的環境條件也越來越多樣化，只有嚴格制定產品的相關條件,正確選擇產品的環境
?半導體集成電路失效分析檢測裝備之高低溫試驗箱。電子產品失效分析是一門新興發展中的學科，在提高產品質量，技術開發、改進，產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義！下面讓柏毅君根據多年生產經驗介紹一下集成電路（CMOS）低溫失效分析與高溫失效檢測！ ??高低溫交變濕熱試驗箱與恒溫恒濕試驗箱屬同類產品，只是叫法不同，高低溫交變濕熱試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領
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